電力電纜故障測(cè)試儀故障測(cè)試原理及面板介紹

電纜故障測(cè)試原理
本儀器采用時(shí)域反射（TDR）原理，對(duì)被測(cè)電纜發(fā)射一系列電脈沖，并接收電纜中因阻抗變化引起的反射脈沖，再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離為：
S=VT/2式中：
S代表故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離
V代表電波在電纜中的傳播速度
T代表電波在電纜中來(lái)回傳播所需要的時(shí)間
這樣，在V已知和T已經(jīng)測(cè)出的情況下，就可計(jì)算出故障點(diǎn)距測(cè)試。端的距離S 。這一切只需稍加人工干預(yù)，就可由計(jì)算機(jī)自動(dòng)完成，測(cè)試故障迅速準(zhǔn)確。

電力電纜故障綜合測(cè)試儀測(cè)試系統(tǒng)控制面板介紹

測(cè)試面板可分為四部分：菜單欄、狀態(tài)欄、圖形顯示區(qū)、功能鍵區(qū)。

１、菜單欄
菜單欄包括：“數(shù)據(jù)管理”和“測(cè)試幫助”兩個(gè)菜單項(xiàng)。
“數(shù)據(jù)管理”菜單：包括“打印”，“讀盤(pán)”，“存盤(pán)”，“結(jié)束”四個(gè)菜單項(xiàng)。
    選擇“打印”可將屏幕顯示內(nèi)容用打印機(jī)打印出來(lái)；選“存盤(pán)”可將測(cè)試的波形和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于電腦的硬盤(pán)或者軟盤(pán)中，作為資料保存；選“讀盤(pán)”可調(diào)出以前測(cè)試時(shí)存在磁盤(pán)內(nèi)的波形；選“結(jié)束”可退出該控制面板。
“測(cè)試幫助”：點(diǎn)擊該菜單，可顯示測(cè)試管理系統(tǒng)的使用說(shuō)明書(shū)，可打印輸出。

2、狀態(tài)欄
狀態(tài)欄里顯示四個(gè)方面的信息， 精品電力電纜故障測(cè)試儀器/高壓低壓/地下zui左邊是測(cè)試方式；第二個(gè)是選擇的電纜介質(zhì)所對(duì)應(yīng)電波速度（若是測(cè)速度，則不顯示介質(zhì)信息）第三個(gè)是故障距離（或電纜長(zhǎng)度），右邊顯示測(cè)試日期。

3、圖形顯示區(qū)
圖形顯示區(qū)用來(lái)顯示采樣所得的波形，對(duì)波形進(jìn)行分析處理和顯示處理結(jié)果。

4、功能鍵區(qū)
功能鍵區(qū)由14個(gè)按鍵組成，可分為三類。
初始化數(shù)據(jù)：包括測(cè)試方法和介質(zhì)選擇兩個(gè)鍵。
測(cè)試方法：有兩種選擇，“測(cè)故障”和“測(cè)速度”。
基本的測(cè)試方法有三種， “低壓脈沖”，“沖閃”，“直閃”。
“低壓脈沖”包括有“2μs”和“0.2μs”兩種脈寬可選擇；“沖閃”包括“電感電壓取樣”，“電阻電壓取樣”，“電流取樣”三個(gè)菜單項(xiàng)；“直閃”包括“電壓取樣”“電流取樣”兩個(gè)菜單項(xiàng)。

介質(zhì)選擇：電力電纜故障綜合測(cè)試儀程序初始化時(shí)設(shè)置為：“油浸紙型”，如果是其他介質(zhì)的電纜，可根據(jù)電纜的介質(zhì)選擇。共有五選項(xiàng)：“油浸紙型”，“不滴流型”，“交聯(lián)乙烯”，“聚氯乙烯”，“自選介質(zhì)”五個(gè)菜單項(xiàng) 。

選擇其中一個(gè)菜單項(xiàng)就等于選擇一種速度，即電波在該電纜中的傳播速度。
數(shù)據(jù)采樣與測(cè)試：共有八個(gè)按鍵：
“采樣”鍵：在系統(tǒng)測(cè)試時(shí)采用。每按動(dòng)一次“采樣”鍵，系統(tǒng)便采集一次數(shù)據(jù)，并可以在圖形顯示區(qū)繪出波形圖來(lái)。
“擴(kuò)展”鍵：為了精確計(jì)算故障距離，按此鍵可將顯示的波形擴(kuò)展后再計(jì)算。每按一次波形擴(kuò)展一倍，按四次為一個(gè)循環(huán)。
“卷動(dòng)”鍵：波形擴(kuò)展后，故障點(diǎn)特征波形可能會(huì)出于*屏以外的其它屏內(nèi)，按此鍵可將顯示內(nèi)容一屏一屏地向左移動(dòng)，直到故障波形在屏顯示出來(lái)，便在光標(biāo)精確定位。
“歸位”鍵：需要光標(biāo)快速回到屏幕左端時(shí)按此鍵。
“定位”鍵：計(jì)算距離起點(diǎn)鍵。在光標(biāo)移動(dòng)到特征波形的起始拐點(diǎn)處按此鍵。
“左移”鍵和“右移”鍵：這兩個(gè)鍵用于控制光標(biāo)的左右移動(dòng)。當(dāng)按動(dòng)它們時(shí)，游標(biāo)移動(dòng)，每按一次移動(dòng)一個(gè)單位。此外，為了快速移動(dòng)游標(biāo)，可以用鼠標(biāo)拖動(dòng)游標(biāo)，到合適的位置松開(kāi)即可。
“復(fù)位”鍵：系統(tǒng)復(fù)位鍵。無(wú)論系統(tǒng)處于何種狀態(tài)，按此鍵均可進(jìn)入系統(tǒng)主界面。
波形比較：有四個(gè)鍵。
“儲(chǔ)存”鍵：按此鍵可將測(cè)試的波形和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于電腦中。（“存儲(chǔ)”與“存盤(pán)”不同。“存盤(pán)”是將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在磁盤(pán)上，可長(zhǎng)期保存，而“存儲(chǔ)”只是將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在電腦內(nèi)存中，關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)會(huì)丟失。）
“調(diào)用”鍵：與“存儲(chǔ)”鍵配合使用。按此鍵可在屏幕上顯示上次存儲(chǔ)的內(nèi)容，以便分析與計(jì)算。
“比較”鍵：按此鍵可將現(xiàn)測(cè)的波形和儀器內(nèi)存儲(chǔ)的波形同時(shí)顯示在屏幕上，用戶可對(duì)這兩幅波形進(jìn)行比較分析。
“平移”鍵：按此鍵進(jìn)入圖形左右移動(dòng)功能，點(diǎn)“左移”鍵可將兩個(gè)波形的起點(diǎn)對(duì)齊。

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